光学合成孔径成像的共相位误差检测方法

定　　价：88 元

• 作者：赵伟瑞 著
• 出版时间：2022/4/1
• ISBN：9787576308488
• 出 版 社：北京理工大学出版社

• 中图法分类：TN957.52 
• 页码：0
• 版次：1

内容简介

"光学合成孔径成像技术是指对多个小孔径成像系统或多子镜拼接主镜成像系统进行共相位拼接处理，使其等效于一个大孔径整镜成像系统的成像性能，以提高系统的分辨力和集光能力，为高分辨率观测及激光束合成领域之亟需，广泛应用于遥感与成像，天文观测，环境、大气及海洋监测等。本书介绍了合成孔径成像技术的发展现状和基本原理，对其中的关键技术——共相位误差检测方法进行了研究和阐述，其中包含基于经典光学原理的检测方法、近几年研究的空域到频域转换法、以及新兴的基于深度学习的检测方法等，对各种方法的理论依据、原理、数学模型的建立、误差影响因素等进行了详细阐述，并给出了相应的实验验证系统及分析。
本书是作者对多年来从事光学合成孔径成像的相关科研工作的总结和凝练，可作为从事光学合成孔径成像相关研究工作的科研人员及在校研究生的参考书，也可作为相关专业研究生的教材。"

作者介绍

赵伟瑞，女，2000年获得光学工程专业的工学博士学位，于2004年到北京理工大学任教至今。长期承担自动控制基础、复变函数与积分变换、现代光信息探测技术等本科生及研究生的教学工作；在国内外学术期刊上发表论文30余篇，以第一发明人授权的国家发明专利6项。主要研究领域为空间光学及光学检测，长期致力于高分辨率合成孔径成像的关键技术研究，并取得了一定成果。