高等仪器分析 王霆 孙铁东著

定　　价：98 元

• 作者：王霆，孙铁东
• 出版时间：2023/9/1
• ISBN：9787030762153
• 出 版 社：科学出版社

• 中图法分类：O657 
• 纸张：胶版纸
• 开本：16开

内容简介

本书围绕分子结构解析和材料表界面研究，分九章系统介绍与之相关的各种先进仪器分析方法，包括质谱分析法、一维核磁共振波谱分析法、二维核磁共振波谱分析法、红外和拉曼波谱分析法、紫外和分子荧光波谱分析法、X射线衍射分析法、X射线光电子能谱分析法、表面显微分析法。对于每种方法的发展史、基本原理、常用概念、主要测定技术、测试影响因素以及方法的应用实例都给出了深入的介绍。

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